Получить электронную подпись для физических и юридических лиц по всей РФ

ЗАКУПКА №0373100046726000027

Аукцион в электронной форме

Поставка запасных частей для систем микроскопической инспекции

15 496 315 ₽

Начальная цена

Размещено

17.06.2026 14:01:43 (МСК)

Дата начала подачи заявок

17.06.2026 14:01:43 (МСК)

Заявки до

25.06.2026 09:00:00 (МСК)

Окончание подачи через

7 дней 1 час 59 минут 47 секунд

Объекты закупки

Наименование товара, услуги, работы по КТРУ Код позиции Ед. изм. Количество Цена за ед. изм. Стоимость, руб.
Ресурс 26.51.83.110 ч 2 2060371.46 4120742.92
Конструкция 26.51.83.110 шт 2 2263506.67 4527013.34
Конструкция 26.51.83.110 см 2 1538023.76 3076047.52
Конструкция 26.51.83.110 шт 2 1886255.56 3772511.12

Дополнительная информация

Наименование электронной площадки в сети Интернет

АО «Сбербанк-АСТ»

Адрес электронной площадки в сети Интернет

http://www.sberbank-ast.ru

Город

Москва

Контактные данные

Номер контактного телефона

7-499-6168507

Адрес электронной почты

zakupki@inme-ras.ru

Ответственное должностное лицо

Шабурова А. В.

Организация, определяющая поставщика (подрядчика, исполнителя)

Организация, осуществляющая размещение

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ НАНОТЕХНОЛОГИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК

ИНН

7724595010

Почтовый адрес

119334, Москва, Ленинский, дом 32А

Место нахождения

Российская Федерация, 119991, Москва, ПР-КТ ЛЕНИНСКИЙ, 32А

Организатор

Организация, осуществляющая размещение

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ НАНОТЕХНОЛОГИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК

Почтовый адрес

119334, Москва, Ленинский, дом 32А

Место нахождения

Российская Федерация, 119991, Москва, ПР-КТ ЛЕНИНСКИЙ, 32А

Ответственное должностное лицо

Документация

Аналитика госзакупок

Даст полную статистику о прошедших торгах:

  • Покажет, какие контракты заключаются и на каких условиях;
  • Покажет участников и их ценовые предложения;
  • Покажет контактные данные победителей;
  • Покажет % снижения.

К аналитике